鍍層厚度分析儀 iEDX-100G

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產品類型: 能量色散X熒光光譜分析設備
產品名稱: 鍍層厚度分析儀
型    號: iEDX-100G  (可同時具備環保RoHS檢測功能)
原 產 商: 韓國ISP公司

產品優勢
1.鍍層檢測,檢測層數范圍1-3層;檢測鍍液的元素含量范圍為1ppm-99.99%。
2.樣品倉空間大 長*寬*高310 × 284 × 100 mm(W × D × H);
3.運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環境相對要求低;
4.操作簡單、精準無損、高品質、高性能、高穩定性,快速檢測(5-40秒);
5.頂級配置:Si-pin探測器、超長壽命X射線管、超穩定性高壓電源。
6.超高分辨率:135±5電子伏特(電子伏特越低分辨率越高,檢測越精準,這是能譜儀一個非常關鍵的技術指標);
7.固定式對焦模式,無需調整焦距;
8.可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件;
9.軟件終身免費升級;
10.無損檢測,一次性購買標樣可永久使用;
11.使用安心無憂,售后服務響應時間24H以內,提供全方位保姆式服務;
12.實現鍍層和成份分析同時檢測;
13.具有遠程服務功能,在客戶請求的情況下,可遠程進行儀器維護;

產品特征
1.高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)
2.計算機 / MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數字轉換器)
3.Multi Ray. 運用基本參數法(FP)軟件,對樣品進行精確的鍍層厚度分析,可對鍍液進行定量分析。
4.MTFFP (多層薄膜基本參數法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進行薄膜鍍層厚度測量
相對(比)模式  無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
單鍍層應用 [如:Cu/ABS等]
雙鍍層應用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
5.元素分析:暫時不能分析元素H, He, Li, Be, B, C, N, O;

分析精度及穩定性:
1) Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, Ti, W, Au, Ag, Sn等重金屬含量的檢測限達10~20ppm,對這些金屬測試分析穩定的讀取允許差值本儀器已達到下列標準:
A. 檢測含量大于5%的元素穩定的測試讀取差值小于0.1%
B. 檢測含量在0.5~5%的元素穩定的測試讀取差值小于0.08%
C. 檢測含量在0.1~0.5%的元素穩定的測試讀取差值小于0.05%
D. 檢測含量低于0.1%的元素測試讀取變化率小于10%
2)Mg,Al, P, S, Si, As可做半定量檢測。
6.Multi-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊。可同時分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給。
Multi-Ray 金屬行業精確定量分析軟件。可同時分析8種元素。最小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內部元素作用分析。金屬分析精度可達±0.02%,貴金屬(8-24 Karat) 分析精度可達±0.05kt
Multi-Ray. 對鍍液進行分析。采用不同的數學計算方法對鍍液中的金屬離子進行測定。含全元素、內部元素、矩陣校正模塊。
7.應對新版中華人民共和國RoHS檢測要求,歐盟及北美RoHS檢測等要求標準,精確的測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬,測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。EN71-3規定的八大重金屬:鉛:Pb、汞:Hg、鎘:Cd、銻:Sb、硒:Se、砷:As、鋇:Ba、鉻:Cr。
8.完整的統計函數均值、 標準差、 低/高讀數,趨勢線,Cp 和 Cpk 因素等
9. 特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含完全統計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。
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